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美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀

簡要描述:

美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀簡單輕便,能夠對顆粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量。基于TSI40年氣溶膠儀器設計的經驗

更新時間:2024-01-22 廠商性質:代理商
訪問量:2143 起訂量:>1

美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀

本款產品使用120度光散射角收集散射光強度和精密的電子處理系統,從而得到高質量和高精度的數據。

同時,TSI工廠嚴格的標定標準也確保儀器的精性。3330不僅可以單獨使用,而且還可以放入TSI的外場環境箱中在野外使用。



 產品特點:

  • 0.5微米時粒徑分辨率小于5%
  • 粒徑通道用戶可調
  • 檢測粒徑范圍:0.3-10微米,很多16通道
  • 顆粒物粒徑感應范圍:0.5至25 mm
  • 檢測濃度范圍:0-3000 個 /cm3
  • 彩色觸摸屏,直觀的用戶界面
  • *ISO 21501-01/04要求
  • 輸入折射率和密度可以同時顯示顆粒物數濃度和質量濃度
  • 收集的采樣膜可進行稱重測量和化學分析
  • 電池電量可供20小時的操作
  • 很多可存儲30000個數據
  • 記錄每個樣品的溫度和壓力

美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀 技術參數
測量原則 :
120°光散射和濾膜采樣
濃度限制:
很高3,000個/ cm3 (3,000,000個/L)
質量濃度 :
0.001-275,000 mg/m3
顆粒物粒徑:
檢測粒徑范圍:0.3-10 mm 
粒徑分辨率:0.5mm時5%(符合ISO 21501-01/04)
粒徑通道 :很多16通道,用戶可調

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